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数字集成电路测试及可测性设计

著者张晓旭，张永锋，山丹编著
ISBN9787122465535
分类号TN431.207 电子技术、通信技术
学科工学
版次第1版
出版社化学工业出版社
丛书名“集成电路设计与集成系统”丛书
出版年2024.11
价格¥79.00
页码190页
类型 📄 纸质书
核心评分8.1/10
读者对象—
主题词数字集成电路——测试技术
内容简介：本书从数字集成电路测试与可测性设计的基本概念出发，介绍了数字集成电路测试的概念、原理及方法。主要内容包括：数字集成电路测试基础、测试向量生成、可测性设计与扫描测试、边界扫描测试、内建自测试、存储器测试，以及可测性设计案例及分析。
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