← 返回

片上系统测试设计与优化

著者(瑞典)埃里克·拉森著,孙仁杰译
ISBN9787030769183
分类号TN407 电子技术、通信技术
学科工学
版次第1版
出版社科学出版社
丛书名—
出版年2024
价格¥88.00
页码10,314页
类型 📄 纸质书
核心评分9.3/10
读者对象—
主题词集成电路——芯片——测试,集成电路——芯片——设计
内容简介：本书讨论了片上系统(SoC)测试的相关问题，包括建模以及片上系统测试解决方案的设计和优化。全书分为三部分，在概述经典测试方法的基础上，介绍测试大型、模块化和异构SoC面临的挑战和困难，并介绍了拉森和他的团队为克服上述困难所做的研究工作。
登录后可荐购