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半导体器件建模与测试实验教程——基于华大九天器件建模与验证平台XModel

著者杜江锋,石艳玲,朱能勇编著
ISBN9787121493713
分类号TN303 电子技术、通信技术
学科工学
版次第1版
出版社电子工业出版社
丛书名集成电路系列丛书:电子设计自动化
出版年2025
价格¥58.00
页码213页
类型 📄 纸质书
核心评分8.6/10
读者对象
主题词半导体器件——系统建模——高等学校——教材
内容简介:本教程在简要介绍MOSFET场效应晶体管器件结构和工作原理的基础上,全面叙述了MOSFET基本电学特性和二阶效应;介绍了MOSFET器件模型及建模测试结构和方案设计;给出了MOSFETBSIM模型参数提取流程;介绍了半导体器件SPICE模型建模平台EmpyreanXModel,深入介绍了XModel的基本功能和界面;介绍了MOSFET器件电学特性测试平台、测试模式和测试流程;分别介绍了MOSFET器件电学特性如CV、转移特性和输出特性的测量方法;深入介绍了MOSFET模型参数提取的实验步骤和使用流程;介绍了MOSFET射频模型参数提取方法和使用流程;并介绍了GaN器件模型参数提取方法和使用流程。
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