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碳化硅功率器件——特性、测试和应用技术

著者高远,张岩编著
ISBN9787111778936
分类号TN303 电子技术、通信技术
学科工学
版次第2版
出版社机械工业出版社
丛书名电力电子新技术系列图书
出版年2025
价格¥149.00
页码19,536页
类型 📄 纸质书
核心评分9.1/10
读者对象
主题词
内容简介:本书共分为12章,内容涵盖功率半导体器件基础,SiC二极管的主要特性,SiCMOSFET参数的解读、测试及应用,SiC器件与Si器件特性对比,双脉冲测试技术,SiC器件测试和失效分析技术,高di/dt影响与应对——关断电压过冲,高dv/dt的影响与应对——串扰,高dv/dt影响与应对——共模电流,共源极电感影响与应对,驱动电路,SiC器件的主要应用。
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