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公差配合与技术测量

著者孙学涛主编
ISBN9787302685173
分类号TG801 金属学与金属工艺
学科工学
版次第1版
出版社清华大学出版社
丛书名—
出版年2025
价格¥59.80
页码241页
类型 📄 纸质书
核心评分8.2/10
读者对象—
主题词公差,gong chai,配合,技术测量,高等职业教育,教材————材料科学与工程
内容简介：本书共分为5个模块, 包括走进极限产品检测、线性尺寸公差与检测、几何公差与检测、表面粗糙度与检测、现代测量技术。
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