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宽禁带功率半导体封装:材料、元件和可靠性

著者菅沼克昭主编
ISBN9787111763178
分类号TN303 电子技术、通信技术
学科工学
版次第1版
出版社机械工业出版社
丛书名半导体与集成电路关键技术丛书
出版年2024
价格¥119.00
页码203页
类型 📄 纸质书
核心评分8.6/10
读者对象
主题词禁带
内容简介:本书是国外学者们对宽禁带半导体封装技术和趋势的及时总结。首先,对宽禁带功率器件的发展趋势做了总结和预演判断,讲述宽禁带功率半导体的基本原理和特性,包括其独特的物理和化学属性,以及它们在极端环境下的潜在优势。接着介绍封装材料的选择和特性,分别就互连技术和衬底展开论述,同时,介绍了磁性材料,并对不同材料结构的热性能,以及冷却技术和散热器设计进行了介绍。然后,考虑到功率器件的质量必须通过各种测试和可靠性验证方法来评估,还介绍了瞬态热测试的原理和方法,同时阐述了各种可靠性测试的机理和选择动机。最后,就计算机辅助工程模拟方法列举了许多经典案例。通过本书的学习,读者可以建立起宽禁带功率半导体器件封装的全面概念,为进一步深入研究打下基础。
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